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产品资料

安铂高精度涂层测厚仪UEE920/921/922

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产品名称: 安铂(bo)高精度(du)涂(tu)层测(ce)厚仪(yi)UEE920/921/922
产品型号: UEE920/921/922
产品展商: 安(an)铂
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简单介绍

安铂高精度涂层测厚仪UEE920/921/922能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。通过适用不同的测头,还可满足多种测量需要。本仪器广泛地用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。本仪器符合以下标准:GB/T 4956-1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量,磁性方法;GB/T 4957-1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量,涡流方法。JB/T 8393-1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889-95《磁阻法测厚仪》 JJG818-93《电涡流式测厚仪》,安铂高精度涂层测厚仪UEE920/921/922质保6年,品质保证。


安铂高精度涂层测厚仪UEE920/921/922  的详细介绍

安铂高精度涂层测厚(hou)仪UEE920/921/922能快(kuai)速、无(wu)损伤、精密地(di)(di)进行涂、镀(du)层的测(ce)量(liang)。既可用于实验(yan)室(shi),也可用于工程(cheng)现场。通过适用不同的测(ce)头(tou),还可满足多种测(ce)量(liang)需要。本仪(yi)器广泛地(di)(di)用于制造(zao)业、金属加工业、化工业、商(shang)检等检测(ce)领(ling)域。是材料(liao)保护专业必备的仪(yi)器。本仪(yi)器符(fu)合以下标准:GB/T 4956-1985磁(ci)(ci)性(xing)金属基体上非磁(ci)(ci)性(xing)覆盖层(ceng)厚度测量,磁(ci)(ci)性(xing)方法(fa);GB/T 4957-1985非磁(ci)性金(jin)属基体上非导(dao)电覆盖(gai)层厚度(du)测量,涡流(liu)方法。JB/T 8393-1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪JJG 889-95《磁阻法测厚仪》 JJG818-93《电涡流(liu)式测厚仪》

功能特点

● 全中文菜单界面(mian)操作,简(jian)单方便;  

● 本仪(yi)器采用(yong)了磁(ci)性和涡流两种测厚(hou)方法,可无损地(di)测量磁(ci)性金属基体(ti)(如钢(gang)、铁、合金和

  硬磁性(xing)钢等)上非磁性覆盖层的厚(hou)度(如(ru)锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等(deng))及非磁(ci)性(xing)金属基

  体(如铜、铝、锌、锡等)上非导(dao)电覆(fu)盖层的厚度(:橡胶、油漆、塑料、阳(yang)极氧化膜(mo)等(deng))
● 可使用种测头(F400F1F1/90°、F10CN02N1)
● 具有两种测量(liang)方式:连续测量(liang)方式(CONTINUE)和单次(ci)测量方式(SINGLE);

● 具有(you)两种工(gong)作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(shi)(A-B)
● 设有五(wu)个(ge)统计量:平均值(MEAN)、*大值(zhi)(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(shu)(NO.)、

  标(biao)准偏差(cha)(SDEV);
●多种(zhong)校(xiao)准方(fang)式:可采(cai)用一试(shi)片(pian)校(xiao)准和两试(shi)片(pian)校(xiao)准方(fang)法对仪器进行校(xiao)准,并可用五试(shi)片(pian)校(xiao)准对仪器的(de)系(xi)统误差进行修正;
● 具有存储功能:可存储4类(lei)工件,每类(lei)工件26组(zu),每组(zu)15个测(ce)量(liang)值,共1560个测量值;
● 具(ju)有删除功能(neng):对测(ce)量中(zhong)出现(xian)的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测(ce)量;
● 设置(zhi)限(xian)界(jie):对(dui)限(xian)界(jie)外的(de)测量(liang)值能自动报警;

● 具有与PC 机通讯的功能:可(ke)将测量值、统(tong)计(ji)值传(chuan)输至PC 机,以便对数据进行(xing)进一(yi)步处理;

● 操作过程有蜂(feng)鸣声提(ti)示;

● 有高亮(liang)LED背光(guang)显示,方便在光(guang)线灰(hui)暗环境使用。
● 设(she)有两种关机(ji)方(fang)式(shi):手(shou)动关机(ji)方(fang)式(shi)和自动关机(ji)方(fang)式(shi)

测(ce)量原理

本仪器采用了磁(ci)性(xing)和涡流两(liang)种测厚方(fang)法,可无损(sun)地测量(liang)磁(ci)性(xing)金属(shu)基(ji)体( 如钢(gang)、铁、合金和硬磁(ci)性(xing)钢(gang)等(deng) )上非(fei)磁(ci)性(xing)涂盖(gai)层的(de)厚度(du)(如铝、铬(ge)、铜(tong)、珐琅、橡胶、油(you)漆等(deng))及非(fei)磁(ci)性(xing)金属(shu)基(ji)体(如铜(tong)、铝、锌、锡等(deng))上非(fei)导电涂盖(gai)层的(de)厚度(du)(如:珐琅、橡胶、油(you)漆、塑料等(deng))。

a)       磁性法(F型(xing)测头)

       当测(ce)头(tou)与涂盖层(ceng)(ceng)接触时,测(ce)头(tou)和磁(ci)性金属基(ji)体构成一闭合磁(ci)路,由于非磁(ci)性涂盖层(ceng)(ceng)的存在,使磁(ci)路磁(ci)阻变化(hua),通过测(ce)量其变化(hua)可导出涂盖层(ceng)(ceng)的厚度。

b)       涡流法(N型测头)

    利用高频(pin)交变电(dian)(dian)流在线(xian)圈中产(chan)生一个电(dian)(dian)磁场,当(dang)测(ce)头与(yu)涂(tu)盖(gai)层接触时,金(jin)属基体上产(chan)生电(dian)(dian)涡流,并对测(ce)头中的线(xian)圈产(chan)生反馈(kui)作(zuo)用,通(tong)过测(ce)量反馈(kui)作(zuo)用的大小可导出涂(tu)盖(gai)层的厚度。


安铂高精度涂层(ceng)测(ce)厚仪UEE920/921/922技术参数(shu)

型号

Uee®920

Uee®921

Uee®922

测头类型

F400F1F1/90°、F10CN02N1

工作原理(li)

磁感应(ying)或电涡(wo)流(liu)

测(ce)量范(fan)围

探头(tou)(tou)决定(标配探头(tou)(tou)F1N1  0~1250μm)

低限分辨率

0.1μm

示值(zhi)误差

一点校准(zhun)

探头决定,标(biao)配(pei)探头±(3%H+1

二点校准

探头决定,标配探头±[1~3%)H+1]

    统计(ji)功能(neng)

平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、
测试次数(NO.)、标准(zhun)偏差(SDEV

   工作方式(shi)

直接方(fang)式(DIRECT)和成组方式(Appl)

   测量方(fang)式

连(lian)续测量(liang)方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE

    存储

1560个测(ce)量值

    PC通讯功能

                     

    屏显(xian)

       黑白

    彩屏

       黑白

     外(wai)壳(qiao)

      塑壳

镁铝合金

测试条件

*小曲率半径mm

1.5、凹(ao)9

*小面积直(zhi)径mm

Φ7

基本(ben)临(lin)界厚度(du)mm

0.5

工作环境

温度

0~40

湿度(du)

20%~90%

电源

2*1.5V

2*1.5V

外(wai)形尺寸

163*78*33

130*70*30

重量

200g

300g

标准(zhun)配(pei)置

主机、标准试片、基(ji)体、25号电池,文件(jian)资料,仪(yi)器箱,USB通讯软件

选(xuan)配

多种探头

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